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NV-中心共聚焦低溫顯微鏡的工作原理是將激光束穿過光源孔徑,該光源孔徑由物鏡聚焦到樣品表面的小區域,并通過收集樣品表面發射的光子逐像素構建圖像。 LT-SCM 提供高分辨率圖像,整個視場內所有區域都聚焦,即使對于表面有凹痕和突起的樣品也是如此。它可以在可變溫度下進行非接觸式和無損測量。
LT-sSNOM 低溫顯微鏡具有近場成像和光譜學的能力,以及接觸、動態、MFM、cAFM、KPFM、PRFM 等其他 AFM 模式。樣品界面由離軸拋物面鏡照射,散射光由外差干涉儀檢測。地形圖像可以與光學圖像同時獲得。
LT-SHPM/STM 低溫顯微鏡是借助微米級半導體霍爾傳感器探頭,我們的 LT-SHPM 使用戶能夠將表面霍爾電壓 V H 映射為位置的函數,這直接給出了局部磁感應的空間分布。與霍爾探針一起,該顯微鏡可與 STM 和 QTF 探針一起使用,使用石英音叉探針進行掃描隧道顯微鏡成像和非接觸模式原子力顯微鏡成像。
LT-AFM/MFM 低溫顯微鏡是一種免對準原子力顯微鏡系統,配備工作波長為 1310 nm、噪聲水平為 15 fm/√Hz、工作范圍為 20mK-300K 和高達 16T 磁場的光纖干涉儀。